High-level combined deterministic and pseudoexhuastive test generation for RISC processors

vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Cemil Cem Gürsoy, Jaan Raik
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE European Test Symposium ETS 2019, May 27 - 31, 2019
konverentsi toimumispaik
Baden Baden, Germany
ISSN
1558-1780
1530-1877
ISBN
978-1-7281-1173-5
978-1-7281-1174-2
märkused
Bibliogr.: 31 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Oyeniran, A. S., Ubar, R., Jenihhin, M., ; Gürsoy, C. C., Raik, J. High-level combined deterministic and pseudoexhuastive test generation for RISC processors // 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings. Danvers : IEEE, 2019. 6 p. : ill.