Automated area and coverage optimization of minimal latency checkers

vastutusandmed
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Apneet Kaur Sandhu, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
allikas
2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017), Limassol, Cyprus, 22 – 26 May 2017 : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 7-8 : ill
konverentsi nimetus, aeg
22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017), 22 - 26 May 2017
konverentsi toimumispaik
Limassol, Cyprus
ISSN
1530-1877
ISBN
978-1-5090-5458-9
märkused
Bibliogr.: 5 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Azad, S.P., Niazmand, B., Apneet Kaur, Raik, J., Jervan, G., Hollstein, T. Automated area and coverage optimization of minimal latency checkers // 2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS 2017), Limassol, Cyprus, 22 – 26 May 2017 : proceedings. Piscataway : IEEE, 2017. p. 7-8 : ill.