prindi

Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits

autor
Pagliarini, Samuel Nascimento
Benites, Luis
Martins, Mayler
Rech, Paolo
Kastensmidt, Fernanda
vastutusandmed
Samuel Pagliarini, Luis Benites, Mayler Martins, Paolo Rech, Fernanda Kastensmidt
allikas
IEEE transactions on nuclear science
kirjastus/väljaandja
IEEE
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 68, 5
ilmumisaasta
2021
leheküljed
p. 1045-1053
leitav
http://doi.org/10.1109/TNS.2021.3070643
märksõna
riistvara
rikked
optimeerimine
integraallülitused
võtmesõna
circuit synthesis
logic synthesis
radiation hardening
redundancy
ISSN
0018-9499
märkused
Bibliogr.: 23 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Pagliarini, S., Benites, L., Martins, M., Rech, P., Kastensmidt, F. Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits // IEEE transactions on nuclear science (2021) vol. 68, 5, p. 1045-1053.