Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits
autor
vastutusandmed
Samuel Pagliarini, Luis Benites, Mayler Martins, Paolo Rech, Fernanda Kastensmidt
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 68, 5
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1045-1053
märksõna
võtmesõna
ISSN
0018-9499
märkused
Bibliogr.: 23 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Pagliarini, S., Benites, L., Martins, M., Rech, P., Kastensmidt, F. Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits // IEEE transactions on nuclear science (2021) vol. 68, 5, p. 1045-1053.