Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits

autor
Benites, Luis
Martins, Mayler
Rech, Paolo
Kastensmidt, Fernanda
vastutusandmed
Samuel Pagliarini, Luis Benites, Mayler Martins, Paolo Rech, Fernanda Kastensmidt
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 68, 5
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1045-1053
võtmesõna
logic synthesis
radiation hardening
ISSN
0018-9499
märkused
Bibliogr.: 23 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Pagliarini, S., Benites, L., Martins, M., Rech, P., Kastensmidt, F. Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits // IEEE transactions on nuclear science (2021) vol. 68, 5, p. 1045-1053.