prindi

An external test approach for network-on-a-chip switches

autor
Raik, Jaan
Govind, Vineeth
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Jaan Raik, Vineeth Govind, Raimund Ubar
allikas
2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium
ilmumiskoht
Kolkata
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 185-190 : ill
märksõna
arvutivõrgud
integraallülitused
testimine
ISBN
978-93-80813-12-7
märkused
Bibliogr.: 14 ref
keel
inglise
Raik, J., Govind, V., Ubar, R. An external test approach for network-on-a-chip switches // 2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium. Kolkata : IEEE, 2011. p. 185-190 : ill.