Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
at-speed testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/103)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed self-testing of high-performance pipe-lined processing architectures [Electronic resource]
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
31st Norchip Conference : Vilnius, Lithuania, 11-12 November 2013 : conference program and papers
2013
/
p. 1-6 : ill [USB]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architectures
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Min, Mart
Microprocessors and microsystems
2015
/
p. 909-918 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Self-testing of pipe-lined signal processing architectures at-speed
Gorev, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu
2013
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
103
1.
at-speed testing
2.
boundedness and summability with speed
3.
boundedness with speed
4.
convergence and boundedness with speed
5.
convergence with speed
6.
Drilling speed
7.
high speed boat
8.
high speed craft (HSC)
9.
high speed machining
10.
high speed measurement
11.
high-speed
12.
high-speed craft
13.
high-speed MAS (magic angle spinning)
14.
high-speed planing crafts
15.
high-speed railway
16.
high-speed serial link test
17.
high-speed temperature scanner
18.
high-speed thermogravimetric analysis
19.
low speed
20.
operational speed
21.
Pollen fall speed
22.
speed
23.
speed and position estimation
24.
speed of convergence
25.
speed tracking setpoints
26.
variable speed drive
27.
variable speed drives
28.
variable speed wind turbines
29.
variable-speed drives
30.
variable-speed drives (VSDs)
31.
wind speed
32.
α-absolute convergence with speed
33.
accelerated testing
34.
acoustomechanical testing
35.
anaerobic testing
36.
aspect-oriented testing
37.
benchmark testing
38.
Berridge testing
39.
cancer genomic testing
40.
compliance testing
41.
compositional testing
42.
computer aided testing
43.
conformance testing
44.
courses on electronic testing and design
45.
cybersecurity testing
46.
D. non-destructive testing
47.
design field testing
48.
eddy current testing
49.
erosion testing
50.
fatigue testing
51.
fire testing
52.
hierarchical testing
53.
hypotheses testing
54.
integration testing
55.
laboratory scale testing
56.
load testing
57.
macro mechanical testing and green surface tribology
58.
material testing
59.
measurement and testing
60.
mechanical testing
61.
memory testing
62.
metamorphic testing
63.
microprocessor testing
64.
model based testing
65.
model-based mutation testing
66.
model-based testing
67.
mutation testing
68.
network-testing
69.
non destructive testing
70.
nondestructive testing
71.
non-destructive testing
72.
on-site testing
73.
pin on disc wear testing
74.
PMU calibration testing
75.
PMU testing
76.
point-of-care testing
77.
processor core testing
78.
processor testing
79.
real-time HiL testing
80.
regression testing
81.
RISC processor testing
82.
robustness testing
83.
scenario testing
84.
scratch testing
85.
security testing
86.
small-scale fire testing
87.
software testing
88.
software-in-the-loop (SIL) testing
89.
stand-alone testing
90.
stress-testing
91.
substation testing methods
92.
system testing
93.
tensile testing
94.
testing
95.
testing methods
96.
testing of digital devices
97.
testing of generator
98.
testing of phasor measurement units
99.
two-dimensional array testing
100.
wafer testing
101.
wear testing
102.
vibration testing
103.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT