Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/81)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
At-speed functional built-in self-test methodology for processors [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Indus, Viljar
;
Kalmend, Oliver
Proceedings of the IASTED International Conference on Engineering and Applied Science : December 27-29, 2012, Columbo, Sri Lanka
2012
/
p. 168-172 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Journal of electronic testing : theory and applications
2020
/
p. 87-103
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
81
1.
processor testing
2.
RISC processor testing
3.
processor core testing
4.
microprocessor testing
5.
crypto processor
6.
digital signal processor (DSP)
7.
multicore processor
8.
multi-processor
9.
multi-processor system-on-chip
10.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
11.
processor designs
12.
processor-centric board
13.
processor-centric board test
14.
accelerated testing
15.
acoustomechanical testing
16.
anaerobic testing
17.
aspect-oriented testing
18.
at-speed testing
19.
benchmark testing
20.
Berridge testing
21.
cancer genomic testing
22.
compliance testing
23.
compositional testing
24.
computer aided testing
25.
conformance testing
26.
courses on electronic testing and design
27.
cybersecurity testing
28.
D. non-destructive testing
29.
design field testing
30.
eddy current testing
31.
erosion testing
32.
fatigue testing
33.
fire testing
34.
hierarchical testing
35.
hypotheses testing
36.
integration testing
37.
laboratory scale testing
38.
load testing
39.
macro mechanical testing and green surface tribology
40.
material testing
41.
measurement and testing
42.
mechanical testing
43.
memory testing
44.
metamorphic testing
45.
model based testing
46.
model-based mutation testing
47.
model-based testing
48.
mutation testing
49.
network-testing
50.
non destructive testing
51.
nondestructive testing
52.
non-destructive testing
53.
on-site testing
54.
pin on disc wear testing
55.
PMU calibration testing
56.
PMU testing
57.
point-of-care testing
58.
real-time HiL testing
59.
regression testing
60.
robustness testing
61.
scenario testing
62.
scratch testing
63.
security testing
64.
small-scale fire testing
65.
software testing
66.
software-in-the-loop (SIL) testing
67.
stand-alone testing
68.
stress-testing
69.
substation testing methods
70.
system testing
71.
tensile testing
72.
testing
73.
testing methods
74.
testing of digital devices
75.
testing of generator
76.
testing of phasor measurement units
77.
two-dimensional array testing
78.
wafer testing
79.
wear testing
80.
vibration testing
81.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT