Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault equivalence and dominance (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/95)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Josifovska, Galina
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
DSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal
2015
/
p. 700-705 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Fault collapsing in digital circuits using fast fault dominance and equivalence analysis with SSBDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC : Design for Reliability, Security, and Low Power : 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015 Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers
2016
/
p. 23-45 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-46097-0_2
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
2015
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
95
1.
fault equivalence and dominance
2.
abuse of dominance
3.
collective dominance
4.
dominance
5.
dominance ratio
6.
national provision prohibiting abuses of dominance
7.
contextual equivalence
8.
equivalence ratio
9.
functional equivalence principle
10.
input-output equivalence transformations
11.
program equivalence
12.
state equivalence
13.
transfer equivalence
14.
asynchronous fault detection
15.
automatic fault diagnosis
16.
bearing fault diagnosis
17.
bi-directional fault monitoring devices
18.
conditional fault collapsing
19.
control fault models
20.
critical path fault tracing
21.
cross-layer fault tolerance
22.
cross-layered fault management
23.
extended fault class
24.
fault currents
25.
fault analysis
26.
fault analysis model
27.
fault classification
28.
fault classification
29.
fault collapsing
30.
fault compensation
31.
fault coverage
32.
fault current and voltage measurements
33.
Fault current limite
34.
fault detection
35.
fault detection and diagnoses
36.
fault detection and diagnosis
37.
fault diagnosis
38.
fault diagnostic
39.
fault diagnostic resolution
40.
fault diagnostics
41.
fault dignosis
42.
fault effects
43.
fault handling
44.
fault handling strategy
45.
fault indicator
46.
fault injection
47.
Fault Injection Simulation
48.
fault Interruption
49.
fault localization
50.
fault management
51.
fault masking
52.
fault modeling
53.
fault models
54.
fault monitoring
55.
fault prediction
56.
fault protection
57.
fault redundancy
58.
fault resilience
59.
fault ride through
60.
Fault ride through enhancement
61.
fault signal
62.
fault simulastion
63.
fault simulation
64.
fault simulation with critical path tracing
65.
fault tolerance
66.
fault tolerant
67.
fault tolerant control
68.
fault tolerant operation
69.
fault tolerant router design
70.
Fault Tree Analysis
71.
fault-injection attack
72.
fault-plane solution
73.
fault-resilience
74.
fault-resistant
75.
fault-ride-through (FRT)
76.
fault-tolerance
77.
fault-tolerant
78.
Fault-tolerant (FT) converters
79.
fault-tolerant control
80.
fault-tolerant converter
81.
functional fault model
82.
high-level control fault model
83.
high-level fault coverage
84.
high-level fault model
85.
high-level fault simulation
86.
high-level functional fault model
87.
Katun fault
88.
low-level fault redundancy
89.
no fault found
90.
No-Fault-Found
91.
parallel fault-simulation
92.
stuck-at fault model
93.
test generation and fault diagnosis
94.
transient fault mitigation
95.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT