prindi

A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2017
leheküljed
p. 152-157 : ill
konverentsi nimetus, aeg
20th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April 19-21, 2017
konverentsi toimumispaik
Dresden, Germany
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553
märksõna
rikked
testimine
elektronlülitused
vormimärksõna
konverentsikogumikud
võtmesõna
timing-critical path
gate-level analysis
NBTI
ISSN
2473-2117
ISBN
978-1-5386-0471-7
märkused
Bibliogr.: 21 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Ubar, R., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J. A scalable technique to identify true critical paths in sequential circuits // Proceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany. Piscataway : IEEE, 2017. p. 152-157 : ill. https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553