Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
processor core testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/97)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level test generation for processing elements in many-core systems
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Raik, Jaan
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC2017), July 12-14, 2017, Madrid, Spain : proceedings
2017
/
8 p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
97
1.
processor core testing
2.
processor testing
3.
RISC processor testing
4.
crypto processor
5.
digital signal processor (DSP)
6.
multicore processor
7.
multi-processor
8.
multi-processor system-on-chip
9.
Muti-Processor System on Chip (MPSoC)
10.
processor designs
11.
processor-centric board
12.
processor-centric board test
13.
core collection
14.
core loss
15.
core losses
16.
core shell heterostructures
17.
core short-circuit
18.
core/shell
19.
core-less induction furnace
20.
core-shell nanoparticles
21.
cpu core
22.
crypto core
23.
ferromagnetic core
24.
firn core
25.
many-core
26.
Ohesaare core
27.
sediment core records
28.
toroidal magnetic core
29.
accelerated testing
30.
acoustomechanical testing
31.
anaerobic testing
32.
aspect-oriented testing
33.
at-speed testing
34.
benchmark testing
35.
Berridge testing
36.
cancer genomic testing
37.
compliance testing
38.
compositional testing
39.
computer aided testing
40.
conformance testing
41.
courses on electronic testing and design
42.
cybersecurity testing
43.
D. non-destructive testing
44.
design field testing
45.
eddy current testing
46.
erosion testing
47.
fatigue testing
48.
fire testing
49.
hierarchical testing
50.
hypotheses testing
51.
integration testing
52.
laboratory scale testing
53.
load testing
54.
macro mechanical testing and green surface tribology
55.
material testing
56.
measurement and testing
57.
mechanical testing
58.
memory testing
59.
metamorphic testing
60.
microprocessor testing
61.
model based testing
62.
model-based mutation testing
63.
model-based testing
64.
mutation testing
65.
network-testing
66.
non destructive testing
67.
nondestructive testing
68.
non-destructive testing
69.
on-site testing
70.
pin on disc wear testing
71.
PMU calibration testing
72.
PMU testing
73.
point-of-care testing
74.
real-time HiL testing
75.
regression testing
76.
robustness testing
77.
scenario testing
78.
scratch testing
79.
security testing
80.
small-scale fire testing
81.
software testing
82.
software-in-the-loop (SIL) testing
83.
stand-alone testing
84.
stress-testing
85.
substation testing methods
86.
system testing
87.
tensile testing
88.
testing
89.
testing methods
90.
testing of digital devices
91.
testing of generator
92.
testing of phasor measurement units
93.
two-dimensional array testing
94.
wafer testing
95.
wear testing
96.
vibration testing
97.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT