IEEE design & test of computers (allikas)

teaviku laadid

Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
  • artikkel ajakirjas
    Automated design error localization in RTL designsJenihhin, Maksim; Tšepurov, Anton; Tihhomirov, Valentin; Raik, Jaan; Hantson, Hanno; Ubar, Raimund-Johannes; Bartsch, Günter; Meza Escobar, Jorge Hernan; Wuttke, Heinz-DietrichIEEE design & test of computers2014 / p. 83-92 : ill http://dx.doi.org/10.1109/MDAT.2013.2271420
    artikkel ajakirjas
  • artikkel ajakirjas
    Test synthesis with alternative graphsUbar, Raimund-JohannesIEEE design & test of computers1996 / Spring, p. 48-57: ill
    artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan 1 - 2