Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Guardbands in random testing (pealkiri)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/91)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Guardbands in random testing
Kemnitz, Günter
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering
1997
/
4, p. 260-270: ill
artikkel ajakirjas
2
artikkel kogumikus
Guardbands in random testing
Kemnitz, Günter
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 85-88: ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
91
1.
Gaussian Markov random field
2.
k-random sequences
3.
oriented random walks
4.
random access memory
5.
random coin
6.
random communication delays
7.
random diagnostic tests
8.
random dynamical systems
9.
random forest
10.
random forest classifier
11.
random forests
12.
random function
13.
random matrix
14.
random oracle method
15.
random resistor network
16.
random sample
17.
random search
18.
random walks
19.
random variable load (RVL)
20.
accelerated testing
21.
acoustomechanical testing
22.
anaerobic testing
23.
aspect-oriented testing
24.
at-speed testing
25.
benchmark testing
26.
Berridge testing
27.
cancer genomic testing
28.
compliance testing
29.
compositional testing
30.
computer aided testing
31.
conformance testing
32.
courses on electronic testing and design
33.
cybersecurity testing
34.
D. non-destructive testing
35.
design field testing
36.
eddy current testing
37.
erosion testing
38.
fatigue testing
39.
fire testing
40.
hierarchical testing
41.
hypotheses testing
42.
integration testing
43.
laboratory scale testing
44.
load testing
45.
macro mechanical testing and green surface tribology
46.
material testing
47.
measurement and testing
48.
mechanical testing
49.
memory testing
50.
metamorphic testing
51.
microprocessor testing
52.
model based testing
53.
model-based mutation testing
54.
model-based testing
55.
mutation testing
56.
network-testing
57.
non destructive testing
58.
nondestructive testing
59.
non-destructive testing
60.
on-site testing
61.
pin on disc wear testing
62.
PMU calibration testing
63.
PMU testing
64.
point-of-care testing
65.
processor core testing
66.
processor testing
67.
real-time HiL testing
68.
regression testing
69.
RISC processor testing
70.
robustness testing
71.
scenario testing
72.
scratch testing
73.
security testing
74.
small-scale fire testing
75.
software testing
76.
software-in-the-loop (SIL) testing
77.
stand-alone testing
78.
stress-testing
79.
substation testing methods
80.
system testing
81.
tensile testing
82.
testing
83.
testing methods
84.
testing of digital devices
85.
testing of generator
86.
testing of phasor measurement units
87.
two-dimensional array testing
88.
wafer testing
89.
wear testing
90.
vibration testing
91.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT