Design obfuscation versus test

autor
Farahmandi, Farimah
Blanton, Ronald
vastutusandmed
Farimah Farahmandi, Ozgur Sinanoglu, Ronald Blanton, Samuel Pagliarini
allikas
2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
10 p
konverentsi nimetus, aeg
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 25-29 May 2020
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
võtmesõna
integrated circuit design
automatic test pattern generation
high level synthesis
ISBN
978-1-7281-4312-5
märkused
Bibliogr.: 41 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Farahmandi, F., Sinanoglu, O., Blanton, R., Pagliarini, S. Design obfuscation versus test // 2020 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2020, May 25 - 29, 2020, Tallinn, Estonia. Danvers : IEEE, 2020. 10 p. https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131590