Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs

vastutusandmed
Lembit Jürimägi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 77
ilmumisaasta
leheküljed
art. 103117, 12 p
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 43 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
kategooria (üld)
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Jürimägi, L., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J. Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs // Microprocessors and microsystems (2020) vol. 77, art. 103117, 12 p. https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117