Pagliarini, S., Benites, L., Martins, M., Rech, P., Kastensmidt, F.

prindi

Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits

autor

Pagliarini, Samuel Nascimento

Benites, Luis

Martins, Mayler

Rech, Paolo

Kastensmidt, Fernanda

vastutusandmed

Samuel Pagliarini, Luis Benites, Mayler Martins, Paolo Rech, Fernanda Kastensmidt

allikas

IEEE transactions on nuclear science

kirjastus/väljaandja

IEEE

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 68, 5

ilmumisaasta

2021

leheküljed

p. 1045-1053

leitav

https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3070643

märksõna

riistvara

rikked

optimeerimine

integraallülitused

võtmesõna

circuit synthesis

logic synthesis

radiation hardening

redundancy

ISSN

0018-9499

märkused

Bibliogr.: 23 ref

Open Access

teaduspublikatsioon

klassifikaator

1.1

Scopus

Journal metrics at Scopus

Article at Scopus

WOS

Journal metrics at WOS

Article at WOS

kategooria (üld)

Energia

Füüsika ja astronoomia

Tehnika

kategooria (alam)

Energia. Tuumaenergia ja -tehnika

Füüsika ja astronoomia. Tuuma- ja kõrgenergiafüüsika

Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika

kvartiil

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Uurimisrühm

Riistvara turvalisuse keskus

Pagliarini, S., Benites, L., Martins, M., Rech, P., Kastensmidt, F. Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuits // IEEE transactions on nuclear science (2021) vol. 68, 5, p. 1045-1053. https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3070643