Simple relationship between the breakdown voltage, concentration and junction depth pn diffused junctions

autor
vastutusandmed
T. Rang
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 72, no. 1, July
ilmumisaasta
leheküljed
p. K117-K119 : tab., joon
märkused
Bibliogr.: 13 nim.
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Rang, T. Simple relationship between the breakdown voltage, concentration and junction depth pn diffused junctions // Physica status solidi. A, Applied research (1982) vol. 72, no. 1, July, p. K117-K119 : tab., joon. https://www.ester.ee/record=b1562026*est