Guarnieri, Valerio (autor)

teaviku laadid

Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
  • artikkel kogumikus
    Mutation analysis for systemC designs at TLMGuarnieri, Valerio; Bombieri, Nicola; Pravadelli, Graziano; Fummi, Franco; Hantson, Hanno; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 20112011 / [6] p
    artikkel kogumikus
  • artikkel ajakirjas
    On the reuse of TLM mutation analysis at RTLGuarnieri, Valerio; Hantson, Hanno; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund-JohannesJournal of electronic testing : theory and applications2012 / p. 435-448 : ill
    artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan 1 - 2