Решение задач проектирования тестов микроэлектронных устройств при помощи АГ

vastutusandmed
Р.Убар
allikas
Тезисы докл. всесоюзн. школы-семинара "Диагностика, надежность контроль"
ilmumiskoht
Владивосток
ilmumisaasta
leheküljed
c. 65
keel
vene
Убар Р. Решение задач проектирования тестов микроэлектронных устройств при помощи АГ // Тезисы докл. всесоюзн. школы-семинара "Диагностика, надежность контроль". Владивосток, 1990. c. 65.