Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
IEEE European Test Workshop (allikas)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(3/144)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms
Ivask, Eero
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE European Test Workshop
2000
/
p. 319-320
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE European Test Workshop
2000
/
p. 151-156
https://ieeexplore.ieee.org/document/873781
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
139
1.
IEEE 9 bus test system
2.
European and European Union Patents Court (EEUPC)
3.
European Federation of National Academies of Sciences and Humanities All European Academies, (ALLEA)
4.
accelerated shelf-life test
5.
adaptive test strategy generation
6.
antigen test
7.
ASTM G65 dry sand rubber wheel abrasion test
8.
automated test environment
9.
automated test pattern generation
10.
automatic test case generation
11.
automatic test pattern generation
12.
automatic test program generation
13.
Auvergne test-bed
14.
battery test
15.
behavioral test
16.
behaviour level test generation
17.
bending test
18.
bit-error rate test
19.
Board and System Test
20.
board test
21.
bounds test
22.
built-in self-test
23.
capillary condensation redistribution test
24.
chi-square test
25.
closed bottle test
26.
cognitive screening test
27.
compartment fire test
28.
compartment test
29.
cone penetration test (CPT)
30.
COVID-19 antigen test
31.
cutting test
32.
cybersecurity test bed
33.
DDR4 interconnect test
34.
design and test
35.
design-for-test
36.
deterministic test sequences
37.
diagnostic test
38.
digital test
39.
Digital test and testable design
40.
double-pulse test
41.
drawing test
42.
dry droplet antimicrobial test
43.
embedded test
44.
fan pressurisation test
45.
final test result prediction
46.
four-point bending test
47.
FPGA based test
48.
FPGA-Assisted Test
49.
FPGA-centric test
50.
functional self-test
51.
functional test generation
52.
Granger causality test
53.
hardness test
54.
high-level synthesis for test
55.
high-level test data generation
56.
highlevel test generation
57.
high-speed serial link test
58.
IEEE 1149.1
59.
IEEE 1687
60.
IEEE 802.15.6
61.
IEEE 802156
62.
IEEE C37.118.1
63.
IEEE P1687
64.
IEEE Std. 1687
65.
implementation-independent test generation
66.
in situ tensile test in SEM
67.
industrial field test
68.
in-situ tensile test in SEM
69.
Johansen cointegration test
70.
Kolmogorov-Smirnov test
71.
load test
72.
logic built-in self-test
73.
Luria alternating series test
74.
Mann–Kendall test
75.
memory interconnect test
76.
microprocessor test
77.
Model test
78.
multiplier test
79.
offline test generation
80.
orthogonal test
81.
package test analysis
82.
parallel design and test
83.
performance test
84.
piezocone penetration test (CPTu)
85.
Point Load Test index
86.
pressurisation test
87.
processor-centric board test
88.
provably correct test generation
89.
pseudo-exhaustive test
90.
purity test
91.
rtioco-based timed test sequences
92.
seasonal Mann Kendall test
93.
self-test
94.
self-test architectures
95.
sentence writing test
96.
serial sevens test
97.
ship towing test tank
98.
similar material simulation test
99.
small‐scale test
100.
software based self-test
101.
software-based self-test
102.
software-based self-test (SBST)
103.
soil phosphorus (P) test
104.
standard test method
105.
static load test
106.
static-dynamic probing test (SDT)
107.
stress test
108.
system level test
109.
teaching design and test of systems
110.
tensile test
111.
test
112.
test and evaluation platform
113.
test bench
114.
test coverage
115.
test driven development
116.
test driven modelling
117.
test embankment
118.
test equipment
119.
test generation
120.
test generation and fault diagnosis
121.
test groups
122.
test model design
123.
test optimization
124.
test packets
125.
test path synthesis
126.
test patterns
127.
test point insertion
128.
test program generation
129.
test reference year
130.
test replication
131.
test scenario description language
132.
test-bed
133.
test-house
134.
test-pattern
135.
test-suite reduction
136.
Three-point bending test
137.
unit root test
138.
1995 ECC benchmark test
139.
24th IEEE International Conference on Industrial Technology 2023
märksõna
4
1.
European Test Symposium (ETS)
2.
AI in business, workshop (2022 : Tallinn)
3.
IEEE
4.
16PF (test)
TTÜ märksõna
1
1.
IEEE
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT