European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings (allikas)

teaviku laadid

Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
  • artikkel kogumikus
    DOT: new deterministic defect-oriented ATPG toolRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Sudbrock, Joachim; Kuzmicz, Wieslaw; Pleskacz, Witold A.European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings2005 / p. 96-101 : ill
    artikkel kogumikus
  • artikkel kogumikus
    Energy minimization for hybrid BIST in a system-on-chip test environmentUbar, Raimund-Johannes; Shchenova, Tatjana; Jervan, Gert; Peng, ZeboEuropean Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings2005 / p. 2-7 : ill
    artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan 1 - 2