Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault masking (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
5
Vaata veel..
(1/85)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(5)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
How to prove that a circuit is fault-free?
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings : 15th Euromicro Conference on Digital System Design DSD 2012 : 5-8 September 2012, Cesme, Izmir, Turkey
2012
/
p. 427-430 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Multiple control fault testing in digital systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 20th edition : 19th-21st May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/AQTR.2016.7501287
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Multiple fault testing in systems-on-chip with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Schölzel, Mario
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Proceedings of 2015 10th International Design & Test Symposium (IDT) : Dead Sea, Jordan, 14-16 December 2015
2015
/
p. 66-71 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/IDT.2015.7396738
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Multiple stuck-at-fault detection theorem
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 236-241 : ill
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE
2013
/
p. 36-41 : ill [CD-ROM]
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 5, kuvan
1 - 5
võtmesõna
85
1.
fault masking
2.
auditory masking
3.
military masking colour
4.
asynchronous fault detection
5.
automatic fault diagnosis
6.
bearing fault diagnosis
7.
bi-directional fault monitoring devices
8.
conditional fault collapsing
9.
control fault models
10.
critical path fault tracing
11.
cross-layer fault tolerance
12.
cross-layered fault management
13.
extended fault class
14.
fault currents
15.
fault analysis
16.
fault analysis model
17.
fault classification
18.
fault classification
19.
fault collapsing
20.
fault compensation
21.
fault coverage
22.
fault current and voltage measurements
23.
Fault current limite
24.
fault detection
25.
fault detection and diagnoses
26.
fault detection and diagnosis
27.
fault diagnosis
28.
fault diagnostic
29.
fault diagnostic resolution
30.
fault diagnostics
31.
fault dignosis
32.
fault effects
33.
fault equivalence and dominance
34.
fault handling
35.
fault handling strategy
36.
fault indicator
37.
fault injection
38.
Fault Injection Simulation
39.
fault Interruption
40.
fault localization
41.
fault management
42.
fault modeling
43.
fault models
44.
fault monitoring
45.
fault prediction
46.
fault protection
47.
fault redundancy
48.
fault resilience
49.
fault ride through
50.
Fault ride through enhancement
51.
fault signal
52.
fault simulastion
53.
fault simulation
54.
fault simulation with critical path tracing
55.
fault tolerance
56.
fault tolerant
57.
fault tolerant control
58.
fault tolerant operation
59.
fault tolerant router design
60.
Fault Tree Analysis
61.
fault-injection attack
62.
fault-plane solution
63.
fault-resilience
64.
fault-resistant
65.
fault-ride-through (FRT)
66.
fault-tolerance
67.
fault-tolerant
68.
Fault-tolerant (FT) converters
69.
fault-tolerant control
70.
fault-tolerant converter
71.
functional fault model
72.
high-level control fault model
73.
high-level fault coverage
74.
high-level fault model
75.
high-level fault simulation
76.
high-level functional fault model
77.
Katun fault
78.
low-level fault redundancy
79.
no fault found
80.
No-Fault-Found
81.
parallel fault-simulation
82.
stuck-at fault model
83.
test generation and fault diagnosis
84.
transient fault mitigation
85.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT