International Test Conference (kirjastus/väljaandja)

teaviku laadid

Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
Toon andmeid..
  • artikkel kogumikus
    Fast extended test access via JTAG and FPGAsDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund-JohannesInternational Test Conference 2009 : November 1 - November 6, 2009, Austin Convention Center, Austin, Texas USA : proceedings2009 / p. 1-7 : ill http://dx.doi.org/10.1109/TEST.2009.5355668
    artikkel kogumikus
  • artikkel kogumikus
    FPGA-based synthetic instrumentation for board testAleksejev, Igor; Jutman, Artur; Devadze, Sergei; Odintsov, Sergei; Wenzel, ThomasProceedings : International Test Conference 20122012 / p. 1-10 : ill
    artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan 1 - 2