Test system for fault detection and diagnosis in microprocessor control devicesUbar, Raimund-Johannes; Lohuaru, Tõnu; Männisalu, Mati; Pukk, P.; Vanamölder, E.Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised1990 / lk. 63-77: ill

Язык УТОПИСТMännisalu, Mati; Tõugu, Enn; Unt, M.; Fuksman, AdolfАлгоритмы и организация решения экономических задач : сборник статей1977 / с. 80-113 https://www.ester.ee/record=b2080193*est