Otsing - TalTech Publikatsioonid

Odintsov, Sergei (autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing

Tühista

Leitud autorid

Odintsov, Sergei

autor

teaviku laadid

raamat

artikkel ajakirjas

artikkel ajalehes

artikkel kogumikus

dissertatsioon

Open Access

Teaduspublikatsioon

aasta

ekspordi kõik päringu tulemused (6)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

A new FPGA-based detection method for spurious variations in PCBA power distribution networkOdintsov, Sergei; Bozzoli, Ludovica; De Sio, Corrado; Sterpone, Luca; Jutman, Artur2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings2019 / 6 p. : illhttps://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724662

artikkel kogumikus
2

artikkel kogumikus

Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for productionOdintsov, Sergei; Jutman, Artur; Devadze, Sergei; Aleksejev, IgorIEEE AUTOTESTCON 2017 : Schaumburg, USA, Sept 11-14, 2017 : proceedings2017 / p. 336-334 : illhttps://doi.org/10.1109/AUTEST.2017.8080516

artikkel kogumikus
3

artikkel kogumikus

FPGA-based synthetic instrumentation for board testAleksejev, Igor; Jutman, Artur; Devadze, Sergei; Odintsov, Sergei; Wenzel, ThomasProceedings : International Test Conference 20122012 / p. 1-10 : ill

artikkel kogumikus
4

artikkel kogumikus

In-field detection of degradation on PCB assembly high-speed busesOdintsov, SergeiIEEE AUTOTESTCON 2018 : National Harbor, September 17-20, 2018 : proceedings2018 / 6 p.: illhttps://doi.org/10.1109/AUTEST.2018.8532547

artikkel kogumikus
5

artikkel kogumikus

Marginal PCB assembly defect detection on DDR3/4 memory busOdintsov, Sergei; Jutman, Artur; Devadze, Sergei2017 IEEE International Test Conference (ITC 2017) : Forth Worth, Texas, USA, 31 October - 2 November 20172017 / p. 238-247 : illhttps://doi.org/10.1109/TEST.2017.8242070

artikkel kogumikus
6

artikkel kogumikus

Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentationEhrenberg, Heiko; Odintsov, Sergei; Devadze, Sergei; Jutman, Artur; Aleksejev, Igor; Wenzel, Thomas2019 IEEE AUTOTESTCON2019 / 10 p : illhttps://doi.org/10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961057

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 6, kuvan 1 - 6