Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
microprocessor testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(1/77)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022
2022
/
p. 32-37
https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Minimization of the high-level fault model for microprocessor control parts [Online resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Medaiyese, Olusiji
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p.: ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600980
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
On test generation for microprocessors for extended class of functional faults
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC: New technology enabler : 27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 Cusco, Peru, October 6–9, 2019 : Revised and Extended Selected Papers
2020
/
p. 21-44
https://doi.org/10.1007/978-3-030-53273-4
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
77
1.
microprocessor testing
2.
microprocessor
3.
microprocessor chips
4.
microprocessor systems
5.
microprocessor test
6.
shakti microprocessor
7.
accelerated testing
8.
acoustomechanical testing
9.
anaerobic testing
10.
aspect-oriented testing
11.
at-speed testing
12.
benchmark testing
13.
Berridge testing
14.
cancer genomic testing
15.
compliance testing
16.
compositional testing
17.
computer aided testing
18.
conformance testing
19.
courses on electronic testing and design
20.
cybersecurity testing
21.
D. non-destructive testing
22.
design field testing
23.
eddy current testing
24.
erosion testing
25.
fatigue testing
26.
fire testing
27.
hierarchical testing
28.
hypotheses testing
29.
integration testing
30.
laboratory scale testing
31.
load testing
32.
macro mechanical testing and green surface tribology
33.
material testing
34.
measurement and testing
35.
mechanical testing
36.
memory testing
37.
metamorphic testing
38.
model based testing
39.
model-based mutation testing
40.
model-based testing
41.
mutation testing
42.
network-testing
43.
non destructive testing
44.
nondestructive testing
45.
non-destructive testing
46.
on-site testing
47.
pin on disc wear testing
48.
PMU calibration testing
49.
PMU testing
50.
point-of-care testing
51.
processor core testing
52.
processor testing
53.
real-time HiL testing
54.
regression testing
55.
RISC processor testing
56.
robustness testing
57.
scenario testing
58.
scratch testing
59.
security testing
60.
small-scale fire testing
61.
software testing
62.
software-in-the-loop (SIL) testing
63.
stand-alone testing
64.
stress-testing
65.
substation testing methods
66.
system testing
67.
tensile testing
68.
testing
69.
testing methods
70.
testing of digital devices
71.
testing of generator
72.
testing of phasor measurement units
73.
two-dimensional array testing
74.
wafer testing
75.
wear testing
76.
vibration testing
77.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT