Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
fault injection (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
10
Vaata veel..
(1/93)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(10)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Accelerating transient fault injection campaigns by using Dynamic HDL Slicing
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 29-30 October 2019, Helsinki, Finland : proceedings in IEEE Xplore
2019
/
7 p. : ill
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2019.8906932
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
2
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Automated identification of application-dependent safe faults in automotive systems-on-a-chips
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Augusto da Silva, Felipe
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Hamdioui, Said
;
Jenihhin, Maksim
;
Sauer, Christian
Electronics
2022
/
art. 319
https://doi.org/10.3390/electronics11030319
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
3
artikkel kogumikus
Combining fault analysis technologies for ISO26262 functional safety verification
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2019 IEEE 28th Asian Test Symposium (ATS) : 10–13 December 2019, Kolkata, India : proceedings
2019
/
p. 129–134 : ill
https://doi.org/10.1109/ATS47505.2019.00024
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
4
artikkel kogumikus
Determined-safe faults identification : a step towards ISO26262 hardware compliant designs
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Sartoni, Sandro
;
Cantoro, Riccardo
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2020 25th IEEE European Test Symposium (ETS)
2020
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS48528.2020.9131568
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
5
artikkel kogumikus
Efficient fault injection based on dynamic HDL slicing technique
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Sauer, Christian
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 52-53 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854419
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
6
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancement
Abideen, Zain Ul
;
Rashid, Muhammad Haroon
IEEE Access
2020
/
p. 207705-207716
https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
7
artikkel kogumikus
Machine learning to tackle the challenges of transient and soft errors in complex circuits
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019, Greece
2019
/
p. 7-14 : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854423
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
On the estimation of complex circuits functional failure rate by machine learning techniques
Lange, Thomas
;
Balakrishnan, Aneesh
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Sterpone, Luca
49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks - DSN 2019 : Supplemental Volume : proceedings
2019
/
p. 35-41 : ill
https://doi.org/10.1109/DSN-S.2019.00021
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
9
artikkel kogumikus
Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Sauer, Christian
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
2020
/
art. 19889351, 6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
10
artikkel kogumikus
Use of formal methods for verification and optimization of fault lists in the scope of ISO26262
Augusto da Silva, Felipe
;
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Hamdioui, Said
;
Sauer, Christian
2018 Design and Verification Conference (DVCON) Europe : [proceedings]
2018
/
6 p. : ill
https://repository.tudelft.nl/islandora/object/uuid%3Adbd7f22d-0324-45f5-9180-8fe3fc95a9ce
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
Kirjeid leitud 10, kuvan
1 - 10
võtmesõna
93
1.
fault injection
2.
Fault Injection Simulation
3.
fault-injection attack
4.
false data injection attack
5.
fiber-reinforced composites and injection molding
6.
Gate Injection Transistor (GIT)
7.
gating-aware error injection
8.
ghost injection attack
9.
injection molding
10.
injection of technical water
11.
manual hydrodynamic injection
12.
reactive power injection
13.
zero injection phase
14.
asynchronous fault detection
15.
automatic fault diagnosis
16.
bearing fault diagnosis
17.
bi-directional fault monitoring devices
18.
conditional fault collapsing
19.
control fault models
20.
critical path fault tracing
21.
cross-layer fault tolerance
22.
cross-layered fault management
23.
extended fault class
24.
fault currents
25.
fault analysis
26.
fault analysis model
27.
fault classification
28.
fault classification
29.
fault collapsing
30.
fault compensation
31.
fault coverage
32.
fault current and voltage measurements
33.
Fault current limite
34.
fault detection
35.
fault detection and diagnoses
36.
fault detection and diagnosis
37.
fault diagnosis
38.
fault diagnostic
39.
fault diagnostic resolution
40.
fault diagnostics
41.
fault dignosis
42.
fault effects
43.
fault equivalence and dominance
44.
fault handling
45.
fault handling strategy
46.
fault indicator
47.
fault Interruption
48.
fault localization
49.
fault management
50.
fault masking
51.
fault modeling
52.
fault models
53.
fault monitoring
54.
fault prediction
55.
fault protection
56.
fault redundancy
57.
fault resilience
58.
fault ride through
59.
Fault ride through enhancement
60.
fault signal
61.
fault simulastion
62.
fault simulation
63.
fault simulation with critical path tracing
64.
fault tolerance
65.
fault tolerant
66.
fault tolerant control
67.
fault tolerant operation
68.
fault tolerant router design
69.
Fault Tree Analysis
70.
fault-plane solution
71.
fault-resilience
72.
fault-resistant
73.
fault-ride-through (FRT)
74.
fault-tolerance
75.
fault-tolerant
76.
Fault-tolerant (FT) converters
77.
fault-tolerant control
78.
fault-tolerant converter
79.
functional fault model
80.
high-level control fault model
81.
high-level fault coverage
82.
high-level fault model
83.
high-level fault simulation
84.
high-level functional fault model
85.
Katun fault
86.
low-level fault redundancy
87.
no fault found
88.
No-Fault-Found
89.
parallel fault-simulation
90.
stuck-at fault model
91.
test generation and fault diagnosis
92.
transient fault mitigation
93.
transmission lines fault
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT