Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Govind, Vineeth (autor)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
Tühista
Leitud autorid
Govind, Vineeth 1979
CV
autor
teaviku laadid
raamat
artikkel ajakirjas
artikkel ajalehes
artikkel kogumikus
dissertatsioon
Open Access
Teaduspublikatsioon
aasta
Kirjeid leitud
18
Vaata veel..
(4/5)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(18)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
nimi kasvavalt
nimi kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
A framework for combining concurrent checking and online embedded test for low-latency fault detection in NoC routers
Saltarelli, Pietro
;
Niazmand, Behrad
;
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Hollstein, Thomas
;
Jervan, Gert
;
Hariharan, Ranganathan
NOCS '15 : International Symposium on Networks-on-Chip : Vancouver, BC, Canada, September 28-30, 2015
2015
/
[8] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1145/2786572.2788713
artikkel kogumikus
2
A generic synthesizable NoC switch with a scalable testbench
Govind, Vineeth
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
2006
/
p. 91-94 : ill
artikkel kogumikus
3
An external diagnosis method for network-on-a-chip
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe, Workshop on Diagnostic Services in Networks-on-Chips - Test, Debug and On-line Monitoring : April 16-20, 2007, Nice, France
2007
/
[2] p. : ill
artikkel kogumikus
4
An external test approach for network-on-a-chip switches
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Govind, Vineeth
ATS '06 : Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : November 20-23, 2006, Fukuoka, Japan
2006
/
p. 437-442 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2006.23
artikkel kogumikus
5
An external test approach for network-on-a-chip switches
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium
2011
/
p. 185-190 : ill
artikkel kogumikus
6
Design-for-destability-based external test and diagnosis of mesh-like network- on-a-chips
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
IET computers and digital techniques
2009
/
5, p. 476-486 : ill
http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2008.0096
artikkel ajakirjas
7
Design-for-testability for application of external test patterns in a NoC
Govind, Vineeth
;
Raik, Jaan
2nd Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips - Test, Debug, and On-Line Monitoring, in conjunction with Design Automation Conference (DAC)
2008
/
[4] p
artikkel kogumikus
8
DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip
Govind, Vineeth
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
2008
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
9
DfT-based external test and diagnosis of mesh-like networks on chips = Testitavusel põhinev välise testi ja diagnoosi meetod kahemõõtmelistele kiipvõrkudele
Govind, Vineeth
2009
https://digi.lib.ttu.ee/i/?454
https://www.ester.ee/record=b2539211*est
dissertatsioon
10
Extended checkers for logic-based distributed routing in network-on-chips
Niazmand, Behrad
;
Hariharan, Ranganathan
;
Govind, Vineeth
;
Jervan, Gert
;
Hollstein, Thomas
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 8th Annual Conference of the Estonian National Doctoral School in Information and Communication Technologies : December 5-6, 2014, Rakvere
2014
/
p. 83-86 : ill
artikkel kogumikus
11
Extended checkers for logic-based distributed routing in network-on-chips
Niazmand, Behrad
;
Hariharan, Ranganathan
;
Govind, Vineeth
;
Jervan, Gert
;
Hollstein, Thomas
;
Raik, Jaan
BEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 77-80 : ill
artikkel kogumikus
12
Kuidas testida arvutivõrku ränikiibil
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
A & A
2010
/
4, lk. 35-37
artikkel ajakirjas
13
Low-area boundary BIST architecture for mesh-like network-on-chip
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 95-100 : ill
artikkel kogumikus
14
RT-level test point insertion for sequential circuits
Raik, Jaan
;
Govind, Vineeth
;
Ubar, Raimund-Johannes
IWoTA 2004 : IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment : November 2, 2004, Rennes, France : proceedings
2004
/
p. 34-40 : ill
artikkel kogumikus
15
Tenniseharrastus Tallinna tehnikaülikoolis. Tennis on au sees : [kommenteerivad Tauno Otto ja Viveeth Govind]
Sulling, Andres
;
Otto, Tauno
;
Govind, Vineeth
Mente et Manu
2013
/
lk. 26-27 : fot
artikkel ajalehes
16
Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Govind, Vineeth
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum
2007
/
lk. 33-37 : ill
artikkel kogumikus
17
Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Govind, Vineeth
12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings
2007
/
p. 29-34 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41
artikkel kogumikus
18
Ultra-low latency NoC testing via pseudo-random test pattern compaction
Tatenguem, Herve
;
Govind, Vineeth
;
Raik, Jaan
SoC 2012 : International Symposium on System-on-Chip 2012 : Tampere, Finland, October 11-12, 2012
2012
/
6 p. : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 18, kuvan
1 - 18
autor
2
1.
Govind, Vineeth
2.
Govind, Madhav
CV
1
1.
Govind, Vineeth 1979
tema kohta
1
1.
Govind, Viveeth
pealkiri
1
1.
Tenniseharrastus Tallinna tehnikaülikoolis. Tennis on au sees : [kommenteerivad Tauno Otto ja Viveeth Govind]