Метод локализации неисправностей при проверке цифровых схем автоматическими тестерами
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 37-45
series
series variant title
TPI Toimetised ; 432
Труды ТПИ ; 432
TTÜ subject term
notes
Библиогр. : 2 назв
language
vene
Вийлуп, А., Лохуару, Т., Убар, Р. Метод локализации неисправностей при проверке цифровых схем автоматическими тестерами // Анализ и моделирование технических устройств и систем АСУТП. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1977. с. 37-45. (Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 432, Труды по электротехнике и автоматике ; 15).