Ubar, R.-J., Raik, J., Ivask, E., Brik, M.

Test cover calculation in digital systems with word-level decision diagrams

author

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

Ivask, Eero

Brik, Marina

statement of authorship

R.Ubar, J.Raik, E.Ivask, M.Brik

source

Вестник Томского государственного университета

special issue

Приложение. Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной-школы семинара "Проблемы компьютерной безопасности" (Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2003 г.)

year of publication

2002

pages

с. 315-319 : ил

conference name, date

IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной-школы семинара "Проблемы компьютерной безопасности"

conference location

Томск

ISSN

1561-7793

notes

Библиогр.: 10 назв

Ubar, R.-J., Raik, J., Ivask, E., Brik, M. Test cover calculation in digital systems with word-level decision diagrams // Вестник Томского государственного университета (2002), с. 315-319 : ил.