Characterization of Interfaces Between the Metal Film and Silicon Carbide Semiconductor = Metallkontakti ja ränikarbiidi vahelise liidespinna karakteriseerimine

author
Ziko, Mehadi Hasan
supervisor
author supervisor
author supervisor
statement of authorship
Mehadi Hasan Ziko ; [supervisor Ants Koel, co-supervisor Tamas Pardy ; Tallinn University of Technology, School of Information Technologies, Thomas Johann Seebeck Department of Electronics]
type of dissertation
doktoritöö
university/scientific institution
Tallinna Tehnikaülikool
location of publication
Tallinn
publisher
TalTech Press
year of publication
2021
pages
161 p. : ill
series
Tallinn University of Technology. Doctoral thesis = Tallinna Tehnikaülikool. Doktoritöö ; 52
subject term
pooljuhtdioodid
Schottky barjäär
ränikarbiid
elektrikontaktid
alumiinium
tootmistehnoloogia
subject of form
dissertatsioonid
ISSN
2585-6898
ISBN
978-9949-83-763-2
notes
Includes bibliogr
Thesis (Ph.D.) : Tallinn University of Technology, 2021
Kättesaadav ka võrguteavikuna
Kokkuvõte eesti keeles
Autori CV inglise ja eesti keeles, lk. 160-161
url
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/34be534c-63e8-4013-b271-eaf1a7cb22e7
https://www.ester.ee/record=b5471196*est
https://doi.org/10.23658/taltech.52/2021
TalTech department
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
language
inglise