Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состояний

statement of authorship
Ю.П. Рятсеп, Дж.-Т.Э. Тээвет
location of publication
Таллин
year of publication
pages
с. 39-43
ISSN
0136-3549
0320-3441
notes
Библиогр. : 4 назв
Summary: A research method for integrated circuits production process, based on condition clusters analysis
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
3.2
TalTech department
language
vene