Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состояний
author
Budarin, Vladimir
Rätsep, Ülo
Teevet, J.-T.
source
Методы и средства цифровой обработки сигналов
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1984
pages
с. 111-115
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 582
Радиотехника ; 10
series variant title
TPI Toimetised ; 582
Труды ТПИ ; 582
subject term
integraallülitused
kvaliteet
prognostika
klastrid
TTÜ subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
notes
Библиогр. : 4 назв
language
vene