Решение задач проектирования тестов микроэлектронных устройств при помощи АГ
author
Ubar, Raimund-Johannes
statement of authorship
Р.Убар
source
Тезисы докл. всесоюзн. школы-семинара "Диагностика, надежность контроль"
location of publication
Владивосток
year of publication
1990
pages
c. 65
subject term
mikroelektroonika
seadmed
testid
projekteerimine
language
vene