Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроники

author
Kaipoksin, L.
Puusepp, Ü.
statement of authorship
Кайпоксин, Л., Пуусеп, Ю., Рятсеп, Ю., Тээвет, Дж.-Т.
journal volume number month
2
year of publication
pages
с. 76-79 : илл
ISSN
0207-6357
notes
Библиогр.: 2 назв.
TalTech department
language
vene