Dependence of multifractal analysis parameters on the darkness of a processed image
author
Martsepp, Merike
Laas, Tõnu
Laas, Katrin
Priimets, Jaanis
Tõkke, Siim
Mikli, Valdek
statement of authorship
Merike Martsepp, Tõnu Laas, Katrin Laas, Jaanis Priimets, Siim Tõkke, Valdek Mikli
source
Chaos, Solitons & Fractals
publisher
Elsevier
journal volume number month
vol. 156
year of publication
2022
pages
art. 111811
url
https://doi.org/10.1016/j.chaos.2022.111811
subject term
volfram
skaneeriv elektronmikroskoopia
optiline mikroskoopia
pilditöötlus
keyword
multifractal analysis
tungsten
Plasma
SEM
optical microscope
image processing
image darkness
ISSN
0960-0779
scientific publication
teaduspublikatsioon
classifier
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/25347
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85123586094&origin=inward&txGid=75e82391482599e91d44554c9d605712
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=CHAOS%20SOLITON%20FRACT&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000782110200009
category (general)
Mathematics
Matemaatika
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
category (sub)
Mathematics. Mathematical physics
Matemaatika. Matemaatiline füüsika
Mathematics. Applied mathematics
Matemaatika. Rakendusmatemaatika
Physics and astronomy. Statistical and nonlinear physics
Füüsika ja astronoomia. Statistiline ja mittelineaarne füüsika
Physics and astronomy. General physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia. Üldfüüsika ja astronoomia
quartile
Q1
TalTech department
Eesti Mereakadeemia
materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut
language
eesti
Reserch Group
Laboratory of photovoltaic materials