Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостью
author
Vallaste, Heikki
Mellikov, Enn
Tuvike, Tiit
Palmre, Õie
source
Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов
location of publication
Таллин
publisher
Таллинский политехнический институт
year of publication
1986
pages
с. 57-63
series
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620
Полупроводниковые материалы ; 7
series variant title
TPI Toimetised ; 620
Труды ТПИ ; 620
subject term
mikrolained
fotojuhtivus
optoelektroonika
TalTech subject term
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
notes
Библиогр. : 7 назв
language
vene