Normale zur Eichung von Schichtdickenmeßgeräten
author
Laaneots, Rein
Velling, Ants
statement of authorship
R. Laaneots, A. Velling
source
Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, Warszawa, 21-23 czerwca 1989 r. : referaty i komunikaty
location of publication
Warszawa
publisher
Politechnika Warszawska
year of publication
1989
pages
S. 267-274
conference name, date
Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, 21-23 czerwca 1989 r.
conference location
Warszawa
url
https://www.ester.ee/record=b4575029*est
subject term
mõõtmine
TTÜ department
peenmehaanika kateeder
language
saksa