Установка для исследования долговременной стабильности электрофизических параметров полупроводниковых материалов

statement of authorship
Г. Вяльямяэ, И. Тильк, В. Тихонов, Г. Портной, О. Постных
publisher
journal volume number month
5
year of publication
pages
с. 237
ISSN
0032-8162
TalTech department
language
vene