Использование четырехзондового метода для измерения различных параметров полупроводникового материала

author
Samolevski, B.
Korpen, J.
statement of authorship
Б. Самолевский, Ю. Корпен, научный руководитель Э. Вельмре
location of publication
Таллин
year of publication
pages
с. 117
conference name, date
XX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР, 8-10 апреля 1974 г.
conference location
Таллин
TTÜ department
language
vene
Самолевский, Б., Корпен, Ю., Вельмре, Э. Использование четырехзондового метода для измерения различных параметров полупроводникового материала // XX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 1. Таллин : Таллинский политехнический институт, 1974. с. 117. https://www.ester.ee/record=b1306141*est