DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-Chip (title)

types of item

  • book article
    DfT for application of external test patterns in a Network-on-a-ChipGovind, Vineeth; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja2008 / p. 25-28 : ill
    book article
Number of records 1, displaying 1 - 1