• Локализация кратных неисправностей в цифровых схемах методом решения булевых дифференциальных уравненийUbar, Raimund-JohannesСистемы и средства управления : межвузовский сборник научных трудов1978 / с. 71-74 https://www.ester.ee/record=b2642693*est