Systematic unsupervised recycled field-programmable gate array detection
autor
Isaka, Yuya
Shintani, Michihiro
Ahmed, Foisal
Inoue, Michiko
vastutusandmed
Yuya Isaka, Michihiro Shintani, Foisal Ahmed and Michiko Inoue
allikas
IEEE transactions on device and materials reliability
kirjastus/väljaandja
IEEE
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 22, 2
ilmumisaasta
2022
leheküljed
10 p. : ill
leitav
https://doi.org/10.1109/TDMR.2022.3164788
märksõna
programmeeritav ventiilmaatriks
ostsillaatorid
võtmesõna
direct density ratio estimation
process variation
recycled FPGA detection
ring oscillator
ISSN
1530-4388
märkused
Bibliogr.: 31 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/26049
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85127747038&origin=inward&txGid=3198fc47a697d91dd3b9d6fe2fbe8c2f
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=IEEE%20T%20DEVICE%20MAT%20RE&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000808073600012
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
Materials science
Materjaliteadus
kategooria (alam)
Engineering. Safety, risk, reliability and quality
Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Materials science. Electronic, optical and magnetic materials
Materjaliteadus. Elektroonilised, optilised ja magnetilised materjalid
kvartiil
Q2
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)