Influence of excitonic scattering on charge carrier ambipolar diffusion in silicon
autor
Udal, Andres
Velmre, Enn
vastutusandmed
Enn Velmre and Andres Udal
allikas
ESSDERC'97 : proceedings of the 27th European Solid-State Device Research Conference, Stuttgart, Germany, 22-24 September 1997
ilmumiskoht
S.l.
ilmumisaasta
1997
leheküljed
p. 212-215: ill
märksõna
difusioon (füüsika)
räni
hajumine
mõjud
märkused
Bibl. 18 ref
keel
inglise