Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Ivask, Eero
Brik, Marina
vastutusandmed
R.Ubar, J.Raik, E.Ivask, M.Brik
allikas
23rd International Conference on Microelectronics : MIEL 2002, Niš, Yugoslavia, 12-15 May 2002 : proceedings. Volume 2
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE Electron Devices Society
ilmumisaasta
2002
leheküljed
p. 617-620 : ill
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/1003333
märksõna
digitaaltehnika
elektriahelad
rikked
testimine
digitaalintegraallülitused
simulatsioon
ISBN
0-7803-7235-2
märkused
Bibliogr.: 8 ref
keel
inglise