Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for production
autor
Odintsov, Sergei
Jutman, Artur
Devadze, Sergei
Aleksejev, Igor
vastutusandmed
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev
allikas
IEEE AUTOTESTCON 2017 : Schaumburg, USA, Sept 11-14, 2017 : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2017
leheküljed
p. 336-334 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE AUTOTESTCON 2017, September 11-14, 2017
konverentsi toimumispaik
Schaumburg, USA
leitav
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2017.8080516
märksõna
diagnostika (tehnika)
tarkvara projekteerimine
TTÜ märksõna
sardkontroller
võtmesõna
operating margin
marginal defect
no fault found
NFF
FPGA-centric test
embedded instruments
high-speed serial link test
memory interconnect test
bit-error rate test
DDR4 interconnect test
ISBN
978-1-5090-4922-6
märkused
Bibliogr.: 15 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise