Non-linear analysis of the electro-encephalogram for detecting effects of low-level electromagnetic fields
autor
Bachmann, Maie
Kalda, Jaan
Lass, Jaanus
Tuulik, Viiu
Säkki, Maksim
Hinrikus, Hiie
vastutusandmed
M.Bachmann, J.Kalda, J.Lass, V.Tuulik, M.Säkki, H.Hinrikus
allikas
Medical & biological engineering & computing
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 43
ilmumisaasta
2005
leheküljed
1, p. 142-149 : ill
leitav
https://link.springer.com/article/10.1007/BF02345136
märksõna
skaleerimine
spektraalanalüüs
mikrolained
elektroentsefalogramm
elektromagnetväljad
ISSN
0140-0118
märkused
Bibliogr. p. 148
TTÜ struktuuriüksus
biomeditsiinitehnika keskus
TTÜ Küberneetika Instituut
keel
inglise