Labelled marker dataset from Smith chart for image processing based intelligent tuning of microwave cavity filters
autor
Sekhri, Even
vastutusandmed
Even Sekhri
allikas
IEEE DataPort
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2023
leheküljed
1 p.
leitav
https://doi.org/10.21227/zfd8-xt50
märksõna
filtrid
diagrammid
mikrolaineahjud
võtmesõna
Smith chart
microwave
Filter Tuning
Keysight
klassifikaator
6.7
TTÜ struktuuriüksus
elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut
keel
inglise