ECS an endeavor towards providing similar cache reliability behavior in different programs
autor
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
Jahromi, Mohammad Moeini
Salehi, Mostafa E.
Kargar, Mona
vastutusandmed
Mohammad Hasan Ahmadilivani, Mohammad Moeini Jahromi, Mostafa E. Salehi, Mona Kargar
allikas
Microelectronics Reliability
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 152
ilmumisaasta
2024
leheküljed
art. 115295
leitav
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115295
märksõna
vahemälu
protsessorid
töökindlus
arvutiprogrammid
võtmesõna
cache vulnerability analysis
failure in time
reliability evaluation
reliability-performance trade-off
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 25 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/26717
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85178337397&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sot=b&sdt=b&s=DOI%2810.1016%2Fj.microrel.2023.115295%29&sessionSearchId=0b9f9fcd32592ba1f53a2482eaa5a072&relpos=0
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=MICROELECTRON%20RELIAB&year=2023
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:001165956700001
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
Physics and astronomy
Füüsika ja astronoomia
Materials science
Materjaliteadus
kategooria (alam)
Engineering. Safety, risk, reliability and quality
Tehnika. Ohutus, risk, töökindlus ja kvaliteet
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Physics and astronomy. Atomic and molecular physics, and optics
Füüsika ja astronoomia. Aatomi- ja molekulaarfüüsika ning optika
Physics and astronomy. Condensed matter physics
Füüsika ja astronoomia. Kondenseeritud aine füüsika
Materials science. Surfaces, coatings and films
Materjaliteadus. Pinnad, katted ja kiled
Materials science. Electronic, optical and magnetic materials
Materjaliteadus. Elektroonilised, optilised ja magnetilised materjalid
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise