Growth surface morphology, and electrical resistivity of fully strained substoichiometric epitaxial TiN
x
(0.67 ≤ x < 1.0) layers on MgO(001)
autor
Shin, C.-S.
Rudenja, Sergei
Gall, D.
Hellgren, N.
Lee, T.-Y.
Petrov, I.
Greene, J.E.
vastutusandmed
C.-S.Shin, S.Rudenja, D.Gall, N.Hellgren, T.-Y.Lee, I.Petrov, and J.E.Greene
allikas
Journal of applied physics
ajakirja aastakäik number kuu
Volume 95
ilmumisaasta
2004
leheküljed
1, p. 356-362 : ill
leitav
https://www.researchgate.net/publication/228927816_Growth_surface_morphology_and_electrical_resistivity_of_fully_strained_substoichiometric_epitaxial_TiN_067_x_10_layers_on_MgO_001
märksõna
õhukesed kiled
elektritakistus
defektid
difusioon (füüsika)
ISSN
0021-8979
märkused
Bibliogr.: 32 ref
keel
inglise