Wear-out failure analysis of an impedance-source PV microinverter based on system-level electrothermal modeling
autor
Shen, Yanfeng
Chub, Andrii
Wang, Huai
Vinnikov, Dmitri
Liivik, Elizaveta
Blaabjerg, Frede
vastutusandmed
Yanfeng Shen, Andrii Chub, Huai Wang, Dmitri Vinnikov, Elizaveta Liivik, Frede Blaabjerg
allikas
IEEE transactions on industrial electronics
kirjastus/väljaandja
IEEE
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 66, 5
ilmumisaasta
2019
leheküljed
p. 3914-3927
leitav
https://doi.org/10.1109/TIE.2018.2831643
märksõna
inverterid
töökindlus
kulumine (tehnika)
modelleerimine (teadus)
võtmesõna
electrothermal modeling
photovoltaic (PV) microinverter (MI)
reliability
wear-out
ISSN
0278-0046
märkused
Bibliogr.: 61 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/26053
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85046350255&origin=inward&txGid=2b0aac53f97c84ec7d310d427b2c3415
WOS
https://jcr.clarivate.com/jcr-jp/journal-profile?journal=IEEE%20T%20IND%20ELECTRON&year=2022
https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000455188700060
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
kategooria (alam)
Engineering. Electrical and electronic engineering
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
Engineering. Control and systems engineering
Tehnika. Juhtimis- ja süsteemitehnika
kvartiil
Q1
TTÜ struktuuriüksus
elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Jõuelektroonika uurimisrühm