Systematic analysis of electronic devices reliability
autor
Eidukas, D.
Balaišis, P.
Navikas, D.
vastutusandmed
D.Eidukas, P.Balaišis, D.Navikas
allikas
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
1998
leheküljed
p. 255-258: ill
märksõna
elektronseadised
töökindlus
analüüs
ISBN
9985-59-081-3
märkused
Bibl. 4 ref
keel
inglise